作业帮用四探针法测量金属薄膜电阻率时可能产生误差的根源
来源：学生作业帮助网 编辑：作业帮 时间：2024/04/29 23:02:52
用四探针法测量金属薄膜电阻率时可能产生误差的根源
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用四探针法测量金属薄膜电阻率时可能产生误差的根源
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四探针法是测量一恒流源在样品不同位置引起的电位差得出材料的电阻率 . 为获得精确的测试结果,必须保持四根探针和样品表面良好、稳定的弹性接触. 它要求探针比较尖及保持适当的接触压力,这就常常造成材料表面损伤并使测量值易受外界干扰,这种情况在测量薄条带或薄膜样品时更为明显. 另外,虽然测量电流很小( < 100 mA) ,但探针与样品接触的面积也很小,由局部热效应产生的电动势有时能达到被测量信号的量级...
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四探针法是测量一恒流源在样品不同位置引起的电位差得出材料的电阻率 . 为获得精确的测试结果,必须保持四根探针和样品表面良好、稳定的弹性接触. 它要求探针比较尖及保持适当的接触压力,这就常常造成材料表面损伤并使测量值易受外界干扰,这种情况在测量薄条带或薄膜样品时更为明显. 另外,虽然测量电流很小( < 100 mA) ,但探针与样品接触的面积也很小,由局部热效应产生的电动势有时能达到被测量信号的量级. 虽然改变电流方向可以抵偿大部分热电势影响 ,但对于电阻率的细微变化,还是不易得到好的结果,且不宜连续测量. 在此基础上发展起来的交流四探针方法[17 ] ,能够消除电接触区的热电势,但它对交流电流源和检测信号的交流放大器稳定性的要求极为严格,且仍存在接触稳定性问题. 这些因素造成四探针法对于电阻值的微小变化不敏感,阻碍了仔细分析材料组织结构的微弱变化过程
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用四探针法测量金属薄膜电阻率时可能产生误差的根源
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